| 单片微控制器系统的静电放电敏感性研究 |
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| 引用本文： | 宋学君,张希军,刘尚合.单片微控制器系统的静电放电敏感性研究[J].河北大学学报(自然科学版),2007,27(6):630-633. |
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| 作者姓名： | 宋学君 张希军 刘尚合 |
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| 作者单位： | 1.军械工程学院,静电与电磁防护研究所,河北,石家庄,050003;河北师范大学,物理科学与信息工程学院,河北,石家庄,050016； 2.军械工程学院,静电与电磁防护研究所,河北,石家庄,050003 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金资助项目(60671044) |
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| 摘 要： | 分别以2种常用的微控制器芯片80C196和AT89C51为核心设计的2种单片微控制器系统做为目标测试板,利用静电放电电磁脉冲分别对这2种系统进行静电放电效应实验研究,并对其失效机理进行分析.实验结果表明, 80C196单片微控制器系统对静电放电比89C51单片微控制器系统敏感,单片机系统在静电放电电磁脉冲作用下出现死机、跳转、重启动、RAM内容改写等功能失效现象.
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| 关 键 词： | 单片机系统 静电放电 电磁脉冲敏感性 |
| 文章编号： | 1000-1565(2007)06-0630-04 |
| 修稿时间： | 2007年7月30日 |
Research on ESD Susceptibilities of Single Chip Microcontrollers Systems |
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| SONG Xue-jun,ZHANG Xi-jun,LIU Shang-he.Research on ESD Susceptibilities of Single Chip Microcontrollers Systems[J].Journal of Hebei University (Natural Science Edition),2007,27(6):630-633. |
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| Authors: | SONG Xue-jun ZHANG Xi-jun LIU Shang-he |
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| Abstract: | The effect experiments of ESD EMP on the two single chip microcontroller(SCM) systems are made individually.The susceptibilities of AT89C51 SCM system and 80C196KC SCM system for ESD are discussed,compared and analyzed.The susceptibility of 80C196 SCM system for ESD is stronger than that of 89C51 SCM system.The system malfunction phenomena of the two SCM systems include freeze,jumping,reset,RAM rewriten etc..The breakdown mechanism is discussed. |
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| Keywords: | single chip microcontroller system ESD EMP susceptibility |
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