| SiO_2涂层结构对Cu_(70)Ni_(30)熔体过冷遗传性的影响 |
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| 引用本文： | 郭学锋,杨根仓,邢建东.SiO_2涂层结构对Cu_(70)Ni_(30)熔体过冷遗传性的影响[J].西安理工大学学报,2000(1). |
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| 作者姓名： | 郭学锋 杨根仓 邢建东 |
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| 作者单位： | 西安理工大学材料科学与工程学院!陕西西安710048，西北工业大学凝固技术国家重点实验室，西安交通大学机械工程学院，西安理工大学材料科学与工程学院!陕西西安710048 |
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| 摘 要： | 采用热分析和红外光谱分析法 ,研究了 Si O2 凝胶薄膜热处理过程中的热失重和结构变化 ,确定了薄膜在室温～ 6 73K区间的分级热处理工艺和玻璃化处理温度。在熔模铸造壳型内表面基体玻璃涂层上制备了两类无裂纹 Si O2 薄膜涂层。析晶实验结果表明 ,第一类薄膜涂层在高温下为方石英 ,第二类薄膜经 1 773K保温 1 5 min处理后为稳定玻璃态。将获得深过冷的 Cu70 Ni30 合金熔体浇入两种涂层中分别获得了 90 K和 1 98K的过冷度 ,表明涂层结构对合金熔体过冷度遗传性有影响SiO_2涂层结构对Cu_(70)Ni_(30)熔体过冷遗传性的影响@郭学锋$西安理…
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