| 6σ质量水平下的连续合格链长控制图及其控制界的优化 |
| |
| 引用本文： | 吴德会,杨世元,董华.6σ质量水平下的连续合格链长控制图及其控制界的优化[J].系统管理学报,2006,15(5):467-470. |
| |
| 作者姓名： | 吴德会 杨世元 董华 |
| |
| 作者单位： | 合肥工业大学,合肥,230009 |
| |
| 摘 要： | 随着科学技术的发展,生产工序已达到六西格玛(6σ)质量水平,传统的3σ方法不再适应现代在线控制的要求。研究以连续合格链长为控制对象的连续合格链长(CCR)控制图解决该问题,提出一种优化控制限的新方法。该方法主要是通过分析CCR图控制限和两类错误所造成总损失之间的关系,并就此建立基于两类损失最小的控制界优化数学模型,最后给出主要研究过程、最优控制下限的数学表达式及其适用条件。
|
| 关 键 词： | 六西格玛 连续合格链长 控制图 控制限 |
| 文章编号： | 1005-2542(2006)05-0467-04 |
| 修稿时间： | 2005年6月14日 |
Optimization of Control Limits of Consecutive Conforming Run-Length Control Charts in 6(σ) Quality Level |
| |
| WU De-hui,YANG Shi-yuan,DONG Hua.Optimization of Control Limits of Consecutive Conforming Run-Length Control Charts in 6(σ) Quality Level[J].Systems Engineering Theory·Methodology·Applications,2006,15(5):467-470. |
| |
| Authors: | WU De-hui YANG Shi-yuan DONG Hua |
| |
| Abstract: | |
| |
| Keywords: | |
| 本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录！ |
|
