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| 半导体激光器电光采样测量技术的研究 | |
| 引用本文： | 王艳辉,衣茂斌.半导体激光器电光采样测量技术的研究[J].大连理工大学学报,1998,38(5):521-524. |
| 作者姓名： | 王艳辉 衣茂斌 |
| 作者单位： | [1]大连理工大学物理系 [2]吉林大学电子工程系 |
| 基金项目： | 国家“八六三”高技术资助项目 |
| 摘 要： | 研制了１．３μｍ半导体激光器电光采样测试装置，并对测试系统的性能进行了分析研究，确定了系统的时间分辨率为１６．７ｐｓ，电压灵敏度为０．２６ｍＶ／Ｈｚ，工作频率可在１～５ＧＨｚ连续改变．通过测量ＨＰ３３００５Ｃ疏状脉冲发生器产生的超短电信号，证明了系统的时间分辨率高于Ｔｅｋ７１０４采样示波器（带Ｓ４采样头）．对高速Ｇｅ探测器脉冲响应特性的测量进一步说明了系统的实用性． |
| 关 键 词： | 半导体激光器 时间分辨率 灵敏度 电光采样测量 |
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