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均匀化分析扫描路径对熔射皮膜热应力的影响
引用本文:王桂兰,徐志华,陈衍祥,张海鸥.均匀化分析扫描路径对熔射皮膜热应力的影响[J].华中科技大学学报(自然科学版),2003,31(9):96-98.
作者姓名:王桂兰  徐志华  陈衍祥  张海鸥
作者单位:华中科技大学塑性成型模拟及模具技术国家重点实验室
基金项目:国家自然科学基金资助项目 (5 0 0 75 0 32 ),国家高技术研究发展计划资助项目 (2 0 0 1AA4 2 115 0 )
摘    要:基于均匀化方法,建立了宏细观连成热应力场计算数学模型,用有限元法计算模拟了等离子熔射快速成膜过程皮膜热应力场,对四种不同喷枪扫描路径下熔射成形皮膜冷却过程热应力场进行了分析。结果表明:采用回形向外扫描模式,皮膜中的等效热应力峰值最小;线性扫描情况下长折线处的应力比短折线处的应力高。在实际喷枪扫描路径的设计和选择中,应尽可能地选择回形向外的扫描模式,同时使组成扫描折线的线段应尽量取短些,以利于降低涂层中的峰值应力。

关 键 词:等离子熔射快速成膜  均匀化方法  有限元  热应力场
文章编号:1671-4512(2003)09-0096-03
修稿时间:2003年3月20日

The effect of scanning paths on thermal stress field in the process of RPSC by homogenization method
Wang GuilanXu ZhihuaChen YanxiangZhang HaiouProf., State Key Laboratory of Plastic Forming Simulation and Die & Mould Technology,Huazhong Univ. of Sci. & Tech.,Wuhan ,China..The effect of scanning paths on thermal stress field in the process of RPSC by homogenization method[J].JOURNAL OF HUAZHONG UNIVERSITY OF SCIENCE AND TECHNOLOGY.NATURE SCIENCE,2003,31(9):96-98.
Authors:Wang GuilanXu ZhihuaChen YanxiangZhang HaiouProf  State Key Laboratory of Plastic Forming Simulation and Die & Mould Technology  Huazhong Univ of Sci & Tech  Wuhan  China
Institution:Wang GuilanXu ZhihuaChen YanxiangZhang HaiouProf., State Key Laboratory of Plastic Forming Simulation and Die & Mould Technology,Huazhong Univ. of Sci. & Tech.,Wuhan 430074,China.
Abstract:
Keywords:rapid plasmaspray coating  homogenization method  finite element  thermal stress field
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
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