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沉积温度对ZnO薄膜波导的PLD生长影响的实验研究
引用本文:邓海东,吴木生,徐初东,罗志环,徐海涛,杨小红,叶志清.沉积温度对ZnO薄膜波导的PLD生长影响的实验研究[J].江西科学,2007,25(2):128-131.
作者姓名:邓海东  吴木生  徐初东  罗志环  徐海涛  杨小红  叶志清
作者单位:1. 华南农业大学理学院应用物理系,广东,广州,510642
2. 江西师范大学物理与通信电子学院,江西,南昌,330027
摘    要:采用PLD(脉冲激光沉积)技术在单晶硅(100)基片上制备出性能优良的ZnO薄膜,并通过XRD(X射线衍射仪)和SEM(扫描电镜)检测了其结晶情况,并分析了其沉积温度和结晶质量之间的相互关系,结果表明600℃时沉积的氧化锌薄膜材料的结晶性能最好。

关 键 词:脉冲激光沉积技术(PLD)  X射线衍射仪(XRD)  半高宽度(FWHM)
文章编号:1001-3679(2007)02-0128-04
修稿时间:2007-01-122007-03-01

The Influence of Growing Temperature in the ZnO Thin Film Deposited by PLD
DENG Hai-dong,WU Mu-sheng,XU Chu-dong,LUO Zhi-huan,XU Hai-tao,YANG Xiao-hong,YE Zhi-qing.The Influence of Growing Temperature in the ZnO Thin Film Deposited by PLD[J].Jiangxi Science,2007,25(2):128-131.
Authors:DENG Hai-dong  WU Mu-sheng  XU Chu-dong  LUO Zhi-huan  XU Hai-tao  YANG Xiao-hong  YE Zhi-qing
Institution:1 College of Science, South China Agriculture University, Guangdong Guangzhou 510642 PRC ; 2. Key laboratory for Opt -electronics ,Jiangxi Normal University ,Jiangxi Nanchang 330027 PRC
Abstract:
Keywords:PLD  XRD  FWHM
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