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一种基于TLP输入的系统级ESD模型分析方法(英文)
引用本文:王艺泽,王源,曹健,张兴.一种基于TLP输入的系统级ESD模型分析方法(英文)[J].北京大学学报(自然科学版),2018(2).
作者姓名:王艺泽  王源  曹健  张兴
作者单位:教育部微电子器件与电路重点实验室北京大学微电子学研究院
摘    要:基于已有的传输线脉冲发生器(TLP)与IEC 61000-4-2应力的等效关系,提出一种以TLP应力作为输入的系统级模型分析方法。与传统的IEC应力作为系统输入的分析方法相比,该方法解决了对流入待测器件(DUT)残余能量的计算不够精确的问题,同时提高了DUT失效预测方面的精准性。通过SPICE仿真,预测了上述两种应力作为系统输入的DUT失效情况。通过相应的印制电路板(PCB)的实测验证,进一步说明新提出的方法能够提高系统级失效预测的精准性。

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