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高次模在半导体少数載流子光电导衰退中的作用
引用本文:
孙恒慧,竺树声,許克明.高次模在半导体少数載流子光电导衰退中的作用[J].复旦学报(自然科学版),1963(1).
作者姓名:
孙恒慧
竺树声
許克明
作者单位:
杭州大学 教师
摘 要:
观察了样品几何尺寸、表面复合速度及光的贯穿程度,对半导体少数载流子光电导衰退中高次模的影响。在测量时使用贯穿光、大尺寸样品、及使样品表面复合速度较低时,高次模的作用可以减少,因而能准确测得体寿命。
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