| 基于小波-神经网络的电阻性开路故障诊断方法 |
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| 引用本文： | 余长庚,赖丽萍.基于小波-神经网络的电阻性开路故障诊断方法[J].山东科学,2013,26(1):56-59. |
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| 作者姓名： | 余长庚 赖丽萍 |
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| 作者单位： | 广西贺州学院 , 广西 贺州 542800 |
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| 基金项目： | 贺州学院院级项目（2010ZRKY06，2012PYZK06） |
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| 摘 要： | 数字电路中的电阻性开路引起时滞性故障，会使电路的功能失效。针对此故障，本文在分析数字电路的瞬态电流IDDT测试和主成分分析技术的基础上,研究了小波-神经网络诊断电阻性开路故障的方法。结果表明，使用小波-神经网络的数字电路的IDDT方法行之有效。
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| 关 键 词： | 电阻性开路故障 瞬态电流IDDT 小波分析 主成分分析 |
| 收稿时间： | 2012-08-13 |
Wavelet analysis and neural network based fault diagnosis for resistive-open defects |
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| YU Chang-geng
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LAI Li-ping.Wavelet analysis and neural network based fault diagnosis for resistive-open defects[J].Shandong Science,2013,26(1):56-59. |
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| Authors: | YU Chang-geng LAI Li-ping |
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| Institution: | Hezhou University, Hezhou 542800, China |
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| Abstract: | Resistive-open defects in a digital circuit will cause a time-delay fault and functional failure of a circuit. We address a fault diagnosis method of resistive-open defects with wavelet analysis and neural network based on the analysis of transient power supply current(IDDT) and principal component analysis. Results show that the method is feasible. |
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| Keywords: | resistive-open defects transient power supply current(IDDT) wavelet analysis PCA |
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