首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     

椭圆偏振谱学法研究Ni(OH)2/NiOOH电极的性质
引用本文:李念兵,罗红群,向斌,张胜涛,丁培道. 椭圆偏振谱学法研究Ni(OH)2/NiOOH电极的性质[J]. 西南师范大学学报(自然科学版), 2003, 28(5): 721-724
作者姓名:李念兵  罗红群  向斌  张胜涛  丁培道
作者单位:1. 西南师范大学,化学化工学院,重庆,400715
2. 中国科学院,海洋研究所,山东,青岛,266071;中国科学院,研究生院,北京,100039
3. 重庆大学,化学化工学院,重庆,400044
4. 重庆大学,材料科学与工程学院,重庆,400044
摘    要:应用现场椭圆偏振光谱技术并结合循环伏安法。研究了镍电极表面Ni(OH)2与NiOOH的相互转化,以均匀膜模型拟合实验数据获得表面膜厚度的变化规律,采用以光学参量变化速率(Vop)为参数的椭圆偏振光谱方法能直接反映出体系的特征.Vop参量与表面膜厚度的变化率间存在密切关系,Vop反映了电极表面表面膜厚度的变化率.

关 键 词:Ni(OH)2/NiOOH电极 椭圆偏振谱学法 循环伏安法 镍电极 光学参量变化速率 表面膜厚度

Study of Electrochemical Properties of Ni(OH)2/NiOOH with Ellipsometric Spectrometry
LI Nian-Bing,LUO Hong-Qun,XIANGBin. Study of Electrochemical Properties of Ni(OH)2/NiOOH with Ellipsometric Spectrometry[J]. Journal of southwest china normal university(natural science edition), 2003, 28(5): 721-724
Authors:LI Nian-Bing  LUO Hong-Qun  XIANGBin
Affiliation:LI Nian-Bing~1,LUO Hong-Qun~1,XIANGBin~
Abstract:Electrochemical reactions of Ni(OH)_2/NiOOH system were studied by using in-situ spectroscopic ellipsometry and the conventional electrochemical methods. By fitting data from ellipsometric measurements with the model of constant growth rate of a uniform film, thickness of the surface film was obtained. A new ellipsometric function' Optical tracking rate', Vop, can directly describe characteristics of this system. Experimental results indicated that Vop reflected change rate of surface film thickness on the electrode.
Keywords:Ni(OH)_2/NiOOH system  ellipsometry  optical tracking rate  thickness
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
点击此处可从《西南师范大学学报(自然科学版)》浏览原始摘要信息
点击此处可从《西南师范大学学报(自然科学版)》下载全文
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号