| 多断口真空开关击穿电压增益与统计特性研究 |
| |
| 引用本文： | 廖敏夫,段雄英,邹积岩.多断口真空开关击穿电压增益与统计特性研究[J].大连理工大学学报,2007,47(5):740-745. |
| |
| 作者姓名： | 廖敏夫 段雄英 邹积岩 |
| |
| 作者单位： | 大连理工大学,电气工程与应用电子技术系,辽宁,大连,116024 |
| |
| 摘 要： | 从长间隙真空开关的击穿特性出发,理论推导得到双断口及多断口真空开关的击穿电压最大可能增益倍数Kn,同时引入"击穿弱点"概念和概率统计方法,分析建立了双断口及多断口真空开关的静态击穿统计分布模型,发现无论是双断口真空开关还是n个断口串联起来,其击穿的统计概率都要比单断口的击穿统计概率要小.为了进行实验论证,建立了三断口真空开关实验模型,对单断口真空灭弧室模型和三断口真空开关实验模型进行了大量的冲击击穿特性实验.研究表明,三断口真空灭弧室相比单断口真空灭弧室具有更低的击穿概率.试验数据与理论分布曲线基本吻合,证明理论研究结果正确.
|
| 关 键 词： | 真空开关 击穿电压增益 击穿弱点 统计特性 |
| 文章编号： | 1000-8608（2007）05-0740-06 |
| 修稿时间： | 2006-01-05 |
Research on breakdown-voltage improvement and statistical property of vacuum interrupters with multi-breaks |
| |
| LIAO Min-fu,DUAN Xiong-ying,ZOU Ji-yan.Research on breakdown-voltage improvement and statistical property of vacuum interrupters with multi-breaks[J].Journal of Dalian University of Technology,2007,47(5):740-745. |
| |
| Authors: | LIAO Min-fu DUAN Xiong-ying ZOU Ji-yan |
| |
| Institution: | Dept. of Electr. and Electr. Eng., Dalian Univ. of Technol., Dalian 116024, China |
| |
| Abstract: | |
| |
| Keywords: | vacuum circuit-breakers improvement factor of breakdown-voltage breakdown weak points statistical property |
| 本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录！ |
| 点击此处可从《大连理工大学学报》浏览原始摘要信息 |
| 点击此处可从《大连理工大学学报》下载免费的PDF全文 |
|
