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溅射制备NiTi薄膜的表面组态对晶化热处理的影响
作者姓名:宫峰飞()()  姜恩永()  沈惠敏()  王业宁()
作者单位:天津大学物理系,天津大学物理系,南京大学固体微结构国家重点实验室,南京大学固体微结构国家重点实验室 天津300072 南京大学固体微结构国家重点实验室,南京210093,天津 300072,南京 210093,南京 210093
基金项目:国家自然科学基金资助项目
摘    要:
溅射制备的NiTi薄膜因其在智能薄膜系统中的广泛应用而受到重视.通常情况下,溅射制备获得的NiTi薄膜是非晶.而非晶Ni-Ti薄膜没有形状记忆效应,因此要进行晶化热处理.但是,在较高温度和/或较长时间下晶化热处理时,我们发现有挥发物出来.分析结果表明其成分为Ti,在仪器的测量误差范围内,没有探测到Ni的存在.Ti的挥发导致表面腐蚀,并使薄膜的质量下降.如果假设NiTi薄膜的表面与内部组分是均匀一致的.那么,根据平衡蒸气压原理,就应该在挥发物中同时测量到Ti和Ni的成分.因此,只有弄清这个问题,才能够有目的地改进制备工艺.为获得高质量的薄膜打下基础.

关 键 词:溅射制备 镍钛合金 薄膜 表面组态 晶化热处理
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