Y型沸石分子筛羟基谱带的红外光谱研究

本文制备了一系列不同硅铝比的Y型沸石样品,以红外光谱法系统地研究了样品的羟基谱带及其变化情况。结果表明,Y型沸石羟基谱带随沸石体系组成的变化及晶格空位和骨架外铝的出现而发生一系列的变化,样品表面羟基振动频率受骨架内电负性和骨架外电荷变化的影响会产生规律性的位移,进一步还讨论了其作用的机理,另外讨论和归属了Y型沸石常出现的几种羟基红外吸收谱带。