| 微细颗粒粒度分析方法与测试技术 |
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| 引用本文： | 郭永彩 高潮 等. 微细颗粒粒度分析方法与测试技术[J]. 重庆大学学报(自然科学版), 2000, 23(5): 100-103 |
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| 作者姓名： | 郭永彩 高潮 等 |
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| 作者单位： | 重庆大学光电工程学院!重庆400044 |
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| 摘 要： | 超细颗粒由于其具有一系列特殊的性质，在国民经济和国防现代化以及现代高科技领域具有重要价值，有着广阔的应用前景。超细颗粒的测量方法和测试技术则是颗粒研究领域的热点。笔者分析并综述了现代颗粒测试的方法和技术，讨论了这些方法应用于亚微米级超细颗粒的测量时存在的问题和局限。
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| 关 键 词： | 颗粒 粒度分析 测量方法 微细颗粒 |
| 修稿时间： | ： |
Submicron Particles Sizing Methods and Measurement Techniques |
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| GUO Yong cai,GAO Chao,HU Xue dong,XIE Li li. Submicron Particles Sizing Methods and Measurement Techniques[J]. Journal of Chongqing University(Natural Science Edition), 2000, 23(5): 100-103 |
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| Authors: | GUO Yong cai GAO Chao HU Xue dong XIE Li li |
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| Abstract: | Due to a series of wonderful characteristics, submicron particles are of high value in national economy, defense modernization and high technology fields, with wide application prospects. Submicron particle sizing methods and techniques are difficult problems in particle research field. Modern methods for particle sizing are stated and analyzed. Some problems are discussed when these methods are used for submicron particles. |
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| Keywords: | particle submicron sizing measurement methods |
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