| 一种易于线性压缩的测试图形生成方法 |
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| 引用本文： | 曹磊,雷绍充,王震,梁峰.一种易于线性压缩的测试图形生成方法[J].西安交通大学学报,2010,44(12). |
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| 作者姓名： | 曹磊 雷绍充 王震 梁峰 |
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| 摘 要： | 为解决VLSI测试中数据量大、功耗高和故障检测难等问题,提出一种易于线性压缩的测试图形生成方法(LCG法).与传统方法不同,LCG法先解析出一类每个向量内部具有线性关系的测试序列,这种线性关系是基于单输入变化序列的,构成的测试序列可有效地减少被测电路内部的开关活动.测试生成时只需搜索测试向量少量的位值,其他位的值按预定义的线性关系解析出,再通过故障模拟的方法确认测试图形.压缩后的测试图形为其少量位的内容,具有压缩率高、易于实现、功耗低和覆盖率高的特点.对ISCAS89中5个最大的基准电路的实验结果表明,LCG法在固定故障覆盖率大于96%的情况下,压缩率都在10倍以上,甚至可以达到100倍以上.
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| 关 键 词： | 测试图形 生成 测试压缩 低功耗 |
An Easy Linear-Compression Test Pattern Generation Method |
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| CAO Lei,LEI Shaochong,WANG Zhen,LIANG Feng.An Easy Linear-Compression Test Pattern Generation Method[J].Journal of Xi'an Jiaotong University,2010,44(12). |
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| Authors: | CAO Lei LEI Shaochong WANG Zhen LIANG Feng |
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