| 高密度硬盘介质基本磁特性参数高精度测量 |
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| 引用本文： | 胡用时,游龙,李震,李佐宜.高密度硬盘介质基本磁特性参数高精度测量[J].华中科技大学学报(自然科学版),2003,31(12):51-53. |
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| 作者姓名： | 胡用时 游龙 李震 李佐宜 |
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| 作者单位： | 华中科技大学电子科学与技术系 |
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| 基金项目： | 教育部博士学科点专项基金资助项目 ( 2 0 0 1 0 4870 2 1 ) |
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| 摘 要： | 分析了影响VSM精确测量高密度硬盘介质磁基本特性参数的几个因素——仪器定标、检测线圈安装位置、锁相放大的时间常数、外加磁场的扫描周期、盘基衬底噪声和退磁场等，在综合考虑并消除诸因素的影响后，使自制高密度硬盘盘片介质的磁基本特性参数获得了较高精度，通过本VSM测试系统，得到磁记录介质的平滑磁滞回线，通过多次测量，由磁滞回线计算的磁基本特性参数相对误差小于1％．
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| 关 键 词： | 高密度硬盘介质 VSM 高精度测量 磁性 基本特性参数 磁性材料 |
| 文章编号： | 1671-4512(2003)12-0051-03 |
| 修稿时间： | 2003年5月20日 |
High precision measure of basic magnetic property parameter of media for high-density hard disk |
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| Hu Yongshi,You Long,Li Zhen,Li Zuoyi.High precision measure of basic magnetic property parameter of media for high-density hard disk[J].JOURNAL OF HUAZHONG UNIVERSITY OF SCIENCE AND TECHNOLOGY.NATURE SCIENCE,2003,31(12):51-53. |
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| Authors: | Hu Yongshi You Long Li Zhen Li Zuoyi |
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| Institution: | Hu Yongshi You Long Li Zhen Li Zuoyi |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | high-density hard disks VSM high precision measurement |
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