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高性能Si1—xGex/Si异质结内光电子发射红外探测器
引用本文:
毛明春,盛伯苓.高性能Si1—xGex/Si异质结内光电子发射红外探测器[J].自然科学进展,1998,8(2):175-180.
作者姓名:
毛明春
盛伯苓
摘 要:
利用Si分子束外延技术,及硅平面器件工艺,制作了工作温度大于液氮温度的SiGe/Si异质内光电子发射红探测器。探测器的黑体探测率在77K时达到1.2*10^10cm.Hz^1/2/W。
关 键 词:
异质结
内光电子发射
红外探测器
硅
半导体
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