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高性能Si1—xGex/Si异质结内光电子发射红外探测器
引用本文:毛明春,盛伯苓.高性能Si1—xGex/Si异质结内光电子发射红外探测器[J].自然科学进展,1998,8(2):175-180.
作者姓名:毛明春  盛伯苓
摘    要:利用Si分子束外延技术,及硅平面器件工艺,制作了工作温度大于液氮温度的SiGe/Si异质内光电子发射红探测器。探测器的黑体探测率在77K时达到1.2*10^10cm.Hz^1/2/W。

关 键 词:异质结  内光电子发射  红外探测器    半导体
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