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| 整体平行束X光透镜在实验室EXAFS谱仪中的应用研究 | |
| 作者姓名： | 孙天希 刘志国 丁训良 |
| 作者单位： | 北京师范大学射线束技术与材料改性教育部重点实验室,低能核物理研究所,北京市辐射中心,100875,北京;北京师范大学射线束技术与材料改性教育部重点实验室,低能核物理研究所,北京市辐射中心,100875,北京;北京师范大学射线束技术与材料改性教育部重点实验室,低能核物理研究所,北京市辐射中心,100875,北京 |
| 摘 要： | 结合整体平行束X光透镜在实验室EXAFS谱仪中应用研究,利用整体平行束X光透镜和粉末衍射仪设计了一种实验室EXAFS谱仪.工作电压和电流分别为25 kV和100 mA时,该谱仪在9.92 keV能量点处,计数率为3.12×104 s-1,在钨杂质的特征谱线Lβ1能量点处,能量分辨率为15.4 eV.整体平行束X光透镜在该谱仪中既起到会聚X射线的作用又可实现高能滤波器的功能.对实验现象进行了理论分析. |
| 关 键 词： | 整体平行束X光透镜 实验室EXAFS谱仪 粉末衍射仪 |
| 修稿时间： | 2004-03-12 |
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