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基于AlN压电层的薄膜体声波谐振器
引用本文:叶芸,吴雯,刘婵,胡光,张凯,顾豪爽. 基于AlN压电层的薄膜体声波谐振器[J]. 湖北大学学报(自然科学版), 2007, 29(2): 153-155
作者姓名:叶芸  吴雯  刘婵  胡光  张凯  顾豪爽
作者单位:湖北大学,物理学与电子技术学院,湖北,武汉,430062;湖北大学,物理学与电子技术学院,湖北,武汉,430062;湖北大学,物理学与电子技术学院,湖北,武汉,430062;湖北大学,物理学与电子技术学院,湖北,武汉,430062;湖北大学,物理学与电子技术学院,湖北,武汉,430062;湖北大学,物理学与电子技术学院,湖北,武汉,430062
基金项目:湖北省武汉市科技攻关项目 , 国家自然科学基金
摘    要:
以AlN薄膜为压电层,采用体硅微细加工工艺制备背空腔型结构薄膜体声波谐振器.材料测试结果表明,在优化溅射工艺下沉积的AlN薄膜具有(002)择优取向及良好的柱状晶结构.扫描电镜表征结果证实所制得空腔背部平滑且各向异性较好.用网络分析仪测试可知,所制得的谐振器具有较好的频率特性:谐振频率为2.537 GHz,机电耦合系数3.75%,串、并联品质因数分别为101.8、79.7.

关 键 词:薄膜体声波谐振器  氮化铝  择优取向  空腔
文章编号:1000-2375(2007)02-0153-03
收稿时间:2006-12-19
修稿时间:2006-12-19

Film bulk acoustic resonator based on AlN piezoelectric cell
YE Yun,WU Wen,LIU Chan,HU Guang,ZHANG Kai,GU Hao-shuang. Film bulk acoustic resonator based on AlN piezoelectric cell[J]. Journal of Hubei University(Natural Science Edition), 2007, 29(2): 153-155
Authors:YE Yun  WU Wen  LIU Chan  HU Guang  ZHANG Kai  GU Hao-shuang
Abstract:
Film bulk acoustic resonator was fabricated in backside air-gap structure using Silicon bulk micromachining technique,with Aluminum nitride films as piezoelectric material.The measurement results show that the AlN films,deposited under optimized sputtering condition,were featured in(002) preferred orientation and well-textured columnar structure.The fashioned air-gap,characterized by scanning microscope,was confirmed with smooth surface on the back and good anisotropy.The fabricated resonator was measured using a network analyzer,and finally achieved a resonant frequency of 2.537 GHz,effective electromechanical coupling coefficient(K2eff) of 3.75%,series quality(Qs) and parallel quality(Qp) of 101.8 and 79.7,respectively.
Keywords:film bulk acoustic resonator(FBAR)  aluminum nitride(AlN)  preferred orientation  air-gap
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
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