基于Stellaris TM系列微控制器的ADC滑动平均过采样技术

Stellaris TM系列微控制器的部分产品中集成了ADC模块。ADC的硬件分辨率为10位，但由于噪音和其它使精度变小的因素的影响，实际的精度小于10位。本文提供了一个基于软件的过采样技术，从而使转换结果的有效位数（ENOB）得到改善，并描述了对输入信号执行过采样的方法，以及在精度和整个系统性能上的影响。