| 闭腔谐振法测试微波介质陶瓷介电参数 |
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| 引用本文： | 周东祥,胡明哲,姜胜林,龚树萍.闭腔谐振法测试微波介质陶瓷介电参数[J].华中科技大学学报(自然科学版),2004,32(8):50-53. |
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| 作者姓名： | 周东祥 胡明哲 姜胜林 龚树萍 |
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| 作者单位： | 华中科技大学,电子科学与技术系,湖北,武汉,430074 |
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| 基金项目： | 国家高技术研究发展计划资助项目 (2 0 0 1AA32 5 1 1 0 )，湖北省科技攻关计划资助项目 (2 0 0 2AA1 0 1C0 1 ) |
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| 摘 要： | 研究用闭腔谐振法测量微波介质陶瓷介电参数的方法，采用TEols模，开波导法研究了闭腔谐振器的谐振频率和导体的表面损耗，并由此计算了材料的微波介电常数、微波介电损耗，研究了谐振频率、介电损耗随体系结构参数的变化．研究证明开波导法的采用和此计算模型对体系谐振频率的计算误差小于5％．低损耗介质基片的采用不但可降低体系的谐振频率，还可有效提高金属板的品质因子，减小测量误差．
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| 关 键 词： | 介电参数 TE0lδ模 介质谐振器 闭腔谐振法 微波介质陶瓷 |
| 文章编号： | 1671-4512(2004)08-0050-04 |
| 修稿时间： | 2003年12月8日 |
Microwave measurement of dielectric properties of ceramics by the closed cavity resonator method |
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| Zhou Dongxiang Prof., Dept. of Electronics Sci. & Tech.,Huazhong Univ. of Sci. & Tech.,Wuhan ,China. Hu Mingzhe Jiang Shenglin Gong Shuping.Microwave measurement of dielectric properties of ceramics by the closed cavity resonator method[J].JOURNAL OF HUAZHONG UNIVERSITY OF SCIENCE AND TECHNOLOGY.NATURE SCIENCE,2004,32(8):50-53. |
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| Authors: | Zhou Dongxiang Prof Dept of Electronics Sci & Tech Huazhong Univ of Sci & Tech Wuhan China Hu Mingzhe Jiang Shenglin Gong Shuping |
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| Institution: | Zhou Dongxiang Prof., Dept. of Electronics Sci. & Tech.,Huazhong Univ. of Sci. & Tech.,Wuhan 430074,China. Hu Mingzhe Jiang Shenglin Gong Shuping |
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