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高分辨率快速成型系统的光固化实验研究
引用本文:胥光申,赵万华,卢秉恒.高分辨率快速成型系统的光固化实验研究[J].西安交通大学学报,2005,39(1):66-69.
作者姓名:胥光申  赵万华  卢秉恒
作者单位:西安交通大学机械工程学院,710049,西安
基金项目:国家高技术研究发展计划资助项目 (2 0 0 2AA2Z40 81,2 0 0 1AA2 42 1 0 1 ),全国优秀博士学位论文资助项目(200026).
摘    要:研究了高分辨率激光快速成型系统中制作参数对固化线宽及固化深度的影响.制作出了固化线宽为12 33μm、固化深度为28 33μm的固化线,表明该系统具有制作细微结构特征的能力.实验结果表明,固化线宽、固化深度随激光功率与扫描速度比值的增大而增大,和普通快速成型系统相比,在相同扫描条件下,该高分辨率快速成型系统制作的固化线线宽更小且固化深度更大.在不同制作条件下,利用最小二乘法得出了固化线宽、固化深度关于激光功率与扫描速度比值的预测模型,利用该模型来预测固化线宽和固化深度,为准确实现线宽补偿及分层厚度的合理设定提供了依据.

关 键 词:快速成型  光固化  高分辨率  固化线宽  固化深度
文章编号:0253-987X(2005)01-0066-04
修稿时间:2004年4月6日

Experimental Investigation on High-Resolution Stereolithography System
Xu Guangshen,Zhao Wanhua,Lu Bingheng.Experimental Investigation on High-Resolution Stereolithography System[J].Journal of Xi'an Jiaotong University,2005,39(1):66-69.
Authors:Xu Guangshen  Zhao Wanhua  Lu Bingheng
Abstract:
Keywords:rapid prototyping  stereolithography  high-resolution  cured line depth  cured line width
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
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