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| M—I型纳米颗粒膜逾渗阈值的测量及验证 | |
| 引用本文： | 胡松青,杨渭.M—I型纳米颗粒膜逾渗阈值的测量及验证[J].石油大学学报(自然科学版),2003,27(1):116-118,125. |
| 作者姓名： | 胡松青 杨渭 |
| 作者单位： | 胡松青（石油大学应用物理系,山东东营,257061） 杨渭（石油大学应用物理系,山东东营,257061） |
| 摘 要： | 采用磁控溅射法，在玻璃基片上制备了一系列不同Ni79Fe21含量的（Ni79Fe21)x(Al2O3)1-xM-I型纳米颗粒膜。测量并分析了电阻率与体积分数的关系，得出该颗粒膜的体积分数逾渗阈值大约为0.51。分别用4种方法验证了M－I型纳米颗粒膜的逾渗阈值。 |
| 关 键 词： | 磁控溅射法 （Ni79Fe21）x（Al2O3）1－x M－I型纳米颗粒膜 逾渗阈值 |
| 文章编号： | 1000-5870(2003)01-0116-03 |
Measurement and verification of percolation threshold for M-I nano-granular film |
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