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用原子力显微镜观察薄带断面的实验方法
引用本文:吴文慧,方允樟,吴锋民,施方也. 用原子力显微镜观察薄带断面的实验方法[J]. 浙江师范大学学报(自然科学版), 2006, 29(1): 42-46
作者姓名:吴文慧  方允樟  吴锋民  施方也
作者单位:浙江师范大学数理学院,浙江,金华,321004
基金项目:浙江省自然科学基金;浙江省青年科技人才专项基金;浙江省科技计划
摘    要:介绍了用原子力显微镜(AFM)观察厚度为几十μm的薄带断口形貌的实验方法.其主要技术是利用AFM的反馈系统来寻找μm量级的断面,从而实现薄带断口形貌的分析.将利用该方法得到的Fe73.5Cu1Nb3Si13.5B9薄带断口的AFM图像与其通常的薄带表面的AFM图像进行比较,发现通过断口的AFM形貌观测可获得不同于表面观测的薄带内部结构的信息,是研究薄带介观结构的一种有效方法.

关 键 词:薄带  断面  介观结构
文章编号:1000-5051(2006)00-0042-05
收稿时间:2005-04-15
修稿时间:2005-09-20

An experimental method of AFM investigation on ribbon''''s cross-section
WU Wenhui,FANG Yunzhang,WU Fengmin,SHI Fangye. An experimental method of AFM investigation on ribbon''''s cross-section[J]. Journal of Zhejiang Normal University Natural Sciences, 2006, 29(1): 42-46
Authors:WU Wenhui  FANG Yunzhang  WU Fengmin  SHI Fangye
Affiliation:College of Physics and Mathematics, Zhejiang Normal University, Jinhua Zhejiang 321004, China
Abstract:
Keywords:AFM
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