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M200测厚系统的原理及算法分析
引用本文:王兴元,满永奎.M200测厚系统的原理及算法分析[J].东北大学学报(自然科学版),1995,16(6):633-637.
作者姓名:王兴元  满永奎
基金项目:中国科学院机器人学开放实验室基金
摘    要:介绍了法国FAG公司M200测厚系统的构成;阐述了射线测量头的工作原理,分析了测厚算法原理,最后找出影响测量精度的各种因素,同时提出为提高测量精度而应采取的措施。

关 键 词:测厚系统  β射线测量头  算法  精度

Operating Principle and Algorithm Analysis of M200 Thickness Gauge System
Wang Xingyuan,Man Yongkui,Cai Shengle,Wang Jianhui,Yang Jian,Shan Ying.Operating Principle and Algorithm Analysis of M200 Thickness Gauge System[J].Journal of Northeastern University(Natural Science),1995,16(6):633-637.
Authors:Wang Xingyuan  Man Yongkui  Cai Shengle  Wang Jianhui  Yang Jian  Shan Ying
Institution:Wang Xingyuan;Man Yongkui;Cai Shengle;Wang Jianhui;Yang Jian;Shan Ying
Abstract:
Keywords:
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