首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     检索      

用平均键能确定异质结价带偏移的准确性研究
引用本文:王仁智.用平均键能确定异质结价带偏移的准确性研究[J].科学通报,1994,39(20):1856-1856.
作者姓名:王仁智
作者单位:厦门大学物理系 厦门361005 (王仁智,柯三黄,郑永梅),厦门大学物理系 厦门361005(黄美纯)
基金项目:国家自然科学基金,福建省自然科学基金资助项目
摘    要:我们建议的以平均键能为参考能级的异质结价带偏移△E_v值的理论计算方法已在一系列晶格匹配的异质结的△E_v值的理论计算中获得比一般线性理论方法更准确的结果,几乎达到计算量极大的界面自洽计算方法(也称为非线性理论方法)的准确性.本文对于由AlAs和GaAs构成的AlAs/GaAs异质结的(110)、(111)以及(100)三种不同晶面的(AlAs)_3(GSAS)_3超原胞(简称SL_3),分别采用E_m为参考能级的方法和界面自洽方法进行了理论计算和比较,全面考察SL_3中的平均键能E_m对齐程度与界面结构、界面电荷转移及计算方案的关系,揭示以平均键能为参考能级的△E_v理论计算方法可达到界面自洽方法的准确性的主要原因.

关 键 词:异质结  价带偏移  平均键能  半导体
收稿时间:1994-02-14
本文献已被 CNKI 维普 等数据库收录!
点击此处可从《科学通报》浏览原始摘要信息
点击此处可从《科学通报》下载免费的PDF全文
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号