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“数码”X射线探伤显神威
摘 要:
由甘肃工业大学主持完成的“CMOS射线直接数字成像技术研究”项目于不久前顺利地通过了中国专家组的鉴定。鉴定组成员称,此项技术已达到国际先进水平,使中国X射线探伤进入无胶片时代,这与数码相机代替普通相机技术一样,是无损检测技术的一次革命性进步。
关 键 词:
X射线探伤
无损检测方法
CMOS射线直接数字成像技术
技术鉴定
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