| 霍尔效应实验浅探 |
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| 引用本文： | 李炜,伍洁妍,祝春丽.霍尔效应实验浅探[J].新余高专学报,2007,12(6):64-65. |
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| 作者姓名： | 李炜 伍洁妍 祝春丽 |
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| 作者单位： | 华南师范太学,物理与电信工程学院,广州,510006 |
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| 摘 要： | 霍尔效应的测量是研究半导体性质的重要试验方法。通过研究，对不同样品的霍尔系数的测量方法以及数据误差分析等方面进行了探讨，提出了形状不规则以及材料不均匀的半导体的霍尔系数的测量方法。
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| 关 键 词： | 霍尔效应 测量方法 附加电压 |
| 文章编号： | 1008-6765(2007)06-0064-02 |
| 修稿时间： | 2007年9月7日 |
Exploration of the Hall Effect experiment |
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| LI Wei,WU Jie-yan,ZHU Chun-li.Exploration of the Hall Effect experiment[J].Journal of XinYu College,2007,12(6):64-65. |
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| Authors: | LI Wei WU Jie-yan ZHU Chun-li |
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