| 基于CVSL结构的组合逻辑选择性加固方案 |
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| 引用本文： | 韩健,梁华国,黄正峰,易茂祥.基于CVSL结构的组合逻辑选择性加固方案[J].合肥工业大学学报(自然科学版),2014(12):1468-1473. |
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| 作者姓名： | 韩健 梁华国 黄正峰 易茂祥 |
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| 作者单位： | 1. 合肥工业大学 计算机与信息学院,安徽 合肥,230009
2. 合肥工业大学 电子科学与应用物理学院,安徽 合肥,230009 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金资助项目(61274036；61106038；61106020；61371025)；高等学校博士学科点专项科研基金资助项目，安徽高校省级自然科学研究重点资助项目 |
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| 摘 要： | 随着集成电路工艺进入微纳尺度,组合逻辑电路的软错误率不断增加,电路的可靠性受到严重威胁。传统的逻辑门加固结构通常会带来较大的面积开销。文章采用具有鲁棒容错性能的级联电压开关逻辑(cascade voltage switch logic,简称CVSL)门单元,提出"CVSL门对"结构对电路输出端进行选择性加固,以较小面积开销实现电路容错性能的大幅提升。Hspice仿真实验表明"CVSL门对"结构具有良好的容忍故障脉冲性能。ISCAS-89基准电路实验结果表明,被加固电路软错误防护率达90%以上,仅带来12.54%的面积开销,比CWSP单元加固法节省46.57%,比三模冗余结构加固法节省91.78%。
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| 关 键 词： | 级联电压开关逻辑门 组合逻辑 软错误 选择性加固 |
Combinational logic selective hardening scheme based on CVSL structure |
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| HAN Jian,LIANG Hua-guo,HUANG Zheng-feng,YI Mao-xiang.Combinational logic selective hardening scheme based on CVSL structure[J].Journal of Hefei University of Technology(Natural Science),2014(12):1468-1473. |
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| Authors: | HAN Jian LIANG Hua-guo HUANG Zheng-feng YI Mao-xiang |
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| Institution: | HAN Jian;LIANG Hua-guo;HUANG Zheng-feng;YI Mao-xiang;School of Computer and Information,Hefei University of Technology;School of Electronic Science and Applied Physics,Hefei University of Technology; |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | cascade voltage switch logic(CVSL) gate combinational logic soft error selective hard-ening |
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