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面阵CCD测径系统的初步研究与开发
引用本文:董湘敏,孙庆群,郭雷.面阵CCD测径系统的初步研究与开发[J].实验室科学,2006(4):50-51.
作者姓名:董湘敏  孙庆群  郭雷
作者单位:承德石油高等专科学校工业技术中心,河北,承德,067000
摘    要:本文论述了面阵CCD传感器装置的测量原理、硬件设计、软件设计及系统标定,指出了影响测量精度的因素及解决措施。该装置的特点是能够实现对线材直径的非接触测量和对变形工件进行检测及动态测量,具有测量精度高、抗环境干扰等优点。

关 键 词:测量精度  IEEE-1394接口
收稿时间:2005-12-22
修稿时间:2005年12月22

Basic Research and Exploitation of Measuring Diameter System by CCD
DONG Xiang-jun.Basic Research and Exploitation of Measuring Diameter System by CCD[J].Laboratory Science,2006(4):50-51.
Authors:DONG Xiang-jun
Abstract:
Keywords:CCD
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