|
|||||
|
|
| 正则任意阶微分系统带一般权第二特征值的上界 | |
| 引用本文： | 朱敏峰,钱椿林.正则任意阶微分系统带一般权第二特征值的上界[J].长春大学学报,2013(8):971-976,981. |
| 作者姓名： | 朱敏峰 钱椿林 |
| 作者单位： | 苏州市职业大学马列与公共教学部 |
| 基金项目： | 苏州市职业大学基金资助项目(2010SZDQ12) |
| 摘 要： | 考虑正则任意阶微分系统带一般权第二特征值的上界估计。利用试验函数,Rayleigh定理,分部积分和Schwarz不等式等估计方法与技巧,获得了用第一特征值来估计第二特征值的上界的不等式,其估计系数与区间的度量无关。其结果在物理学和力学中有着广泛的应用,在常微分方程的研究中起着重要的作用。 |
| 关 键 词： | 正则任意阶微分系统 特征值 特征向量 一般权 上界 |
| 本文献已被 CNKI 等数据库收录！ | |