| 特大规模组合电路测试数据产生方法研究 |
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| 引用本文： | 曾芷德. 特大规模组合电路测试数据产生方法研究[J]. 系统工程与电子技术, 1999, 21(6): 10 |
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| 作者姓名： | 曾芷德 |
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| 作者单位： | 国防科技大学计算机系,长沙,410073 |
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| 摘 要： | ![]()
针对特大规模组合电路和全扫描设计电路提出了一种高速测试生成方法。该方法采用有限回溯测试模式产生方法生成测试码，采用ｎ（机器字长）个测试码并行的单故障传播方法模拟验证测试覆盖。测试生成与故障模拟为ｎ对１紧耦合集成方式。该方法运行１０个Ｂｅｎｃｈｍａｒｋ电路，取得了低测试长度、高故障覆盖、高效率的良好效果。
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| 关 键 词： | 电路可靠性 测试技术 故障模拟 |
| 修稿时间： | :1998年10月2 |
Research on Test Data Generation Method for Upper Large Scale Combination Circuit |
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| Zeng Zhide. Research on Test Data Generation Method for Upper Large Scale Combination Circuit[J]. System Engineering and Electronics, 1999, 21(6): 10 |
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| Authors: | Zeng Zhide |
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| Abstract: | ![]()
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| Keywords: | Full scan design Finite backtracking test pattern generation N to 1 tight coupled integrating mode Parallel pattern Single fault propagation Upper large scale combination circuit |
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