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高电导率N型微晶Si:H薄膜的研制
引用本文:曾宝成,陈有鹏,马萍.高电导率N型微晶Si:H薄膜的研制[J].山东大学学报(理学版),1985(4).
作者姓名:曾宝成  陈有鹏  马萍
作者单位:山东大学物理系 (曾宝成,陈有鹏),山东大学物理系(马萍)
摘    要:(一) 引言据近几年有关报道,在高RF功率下淀积α—Si:H膜可获得高的电导率。Sanyo小组用SiH_4在高RF功率下淀积n型掺杂α—Si:H膜的特征,暗电导率达2.9(Ω·cm)~(-1),激活能达0.02eV。人们认为这种α—Si:H膜的电导率的提高是由膜的部分晶化引起的,即具有微晶结构。国际上已有人采用这种部分晶化的膜作欧姆接触和窗口材料做成了效率较高的α—Si:H太阳电池。这种新型的α—Si:H膜必将在其它技术上得到重要应用。

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