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| Multisim 2001中测试电子器件特性的方法 | |
| 作者姓名： | 蔡文镇 |
| 作者单位： | 福建理工学校,福州,350002 |
| 摘 要： | 利用Multisim 2001软件构建电子器件电路,并用直流扫描分析(DC Sweep Analysis)实现对电阻伏安特性、二极管伏安特性、晶体管输出特性的测试。 |
| 关 键 词： | 伏安特性曲线 仿真 测试 |
| 本文献已被 维普 万方数据 等数据库收录！ | |
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