| 晶粒尺寸对多层陶瓷电容器可靠性能的影响与机理 |
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| 引用本文： | 吕烨同, 覃业霞, 王梅, 杨帅俊, 张蕾. 晶粒尺寸对多层陶瓷电容器可靠性能的影响与机理[J]. 华南师范大学学报（自然科学版）, 2024, 56(3): 1-8. DOI: 10.6054/j.jscnun.2024031 |
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| 作者姓名： | 吕烨同 覃业霞 王梅 杨帅俊 张蕾 |
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| 作者单位： | 1.华南理工大学环境与能源学院,广州 511400;2.深圳先进电子材料国际创新研究院,深圳 518100 |
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| 基金项目： | 科技部重点研发计划项目(2022YFB3807400);广东省自然科学基金面上项目(2022A1515012604) |
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| 摘 要： | 
通过改变BaTiO3基薄层多层陶瓷电容器(MLCC)的晶粒尺寸,探究其对MLCC性能的影响。通过拉曼光谱、电容温度系数(TCC)曲线、偏压特性、伏安(I-V)特性曲线、变温阻抗谱、击穿电压威布尔分布(BDV)和高加速寿命老化(HALT)等全面系统研究了晶粒尺寸对MLCC的电学性能和可靠性的影响。结果表明：晶粒尺寸显著影响MLCC的偏压稳定性和可靠性。
细晶粒MLCC由于具有较高的晶界密度,使其晶界、界面激活能和肖特基势垒得以提高,显著增强了器件的击穿强度和抗老化能力,展现出更好的可靠性。研究结果可以为国内MLCC性能提升提供理论支持和技术指导。
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| 关 键 词： | 陶瓷电容器 钛酸钡 晶粒尺寸 晶界密度 可靠性 |
| 收稿时间： | 2024-05-13 |
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