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数字集成电路的测试与故障诊断方法
引用本文:丁芳,谢克明,李治.数字集成电路的测试与故障诊断方法[J].太原理工大学学报,1997(3).
作者姓名:丁芳  谢克明  李治
作者单位:西南交通大学
摘    要:从桥接故障的两个特点出发,提出了一种快速盲测法,该法弥补了伪穷举法的不足。它既适用于组合逻辑电路、又适用于时序逻辑电路的短路故障测试。在6K型电力机车微机控制箱的测试与故障诊断过程中的成功应用,证实了该方法的有效性。

关 键 词:桥接故障  故障测试  故障诊断

A New Method for the Test and Fault Diagnosis of Digital Integrated Circuits
Ding Fang\ Xie Keming\,Li Zhi.A New Method for the Test and Fault Diagnosis of Digital Integrated Circuits[J].Journal of Taiyuan University of Technology,1997(3).
Authors:Ding Fang\ Xie Keming\  Li Zhi
Institution:Ding Fang\ Xie Keming\ Li Zhi (Dept.of Automation) (Southwest Jiaotong Univ.)
Abstract:A new method according to two charateristics of bridging fault in presented.This method makes up for Pseudo exhaustive method and it is suitable for both combination logic circuit and sequential logic circuit.The example in the test and fault diagnosis of 6k electric locomotive proves that the method achieves good results.
Keywords:bridging fault  fault testing  fault diagnosis  
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