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| 一维线阵CCD边缘检测中阈值电平的确定 | |
| 引用本文： | 徐国盛.一维线阵CCD边缘检测中阈值电平的确定[J].潍坊学院学报,2008,8(2). |
| 作者姓名： | 徐国盛 |
| 作者单位： | 潍坊学院,山东,潍坊,261061 |
| 摘 要： | 提高测量精度的最有效手段是提高图像边缘识别精度,对线阵CCD信号的二值化问题,提出自己的实现方法.并结合这一技术在CCD检测应用的实例,进一步论述这一技术在尺寸测量中的具体应用. |
| 关 键 词： | 边缘检测 电耦合器件 信号处理 阈值电平 一维 线阵 边缘检测 检测应用 尺寸测量 结合 方法 问题 二值化 信号 识别精度 图像边缘 手段 高测量精度 |
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