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基于腔衰荡光谱技术的半导体光放大器增益测量
引用本文:景志广,陈海燕.基于腔衰荡光谱技术的半导体光放大器增益测量[J].高师理科学刊,2024(2):53-55.
作者姓名:景志广  陈海燕
作者单位:长江大学物理与光电工程学院
摘    要:提出并验证一种基于腔衰荡光谱(CRDS)技术的半导体光放大器(SOA)增益测量方法.实验系统包括经RF信号调制的DFB激光器、半导体光放大器、环形器、光纤布拉格光栅、耦合器、温度控制器、光电探测器及示波器.导出了半导体光放大器增益与腔衰荡时间之间的函数关系式.结果表明,腔衰荡时间是半导体光放大器增益的函数,增益是波长的函数,给出了一种测量SOA增益的新方法及技术可行性.

关 键 词:衰荡光谱  半导体光放大器  腔衰荡时间  增益测量
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