PECVD氮化硅薄膜的沉积和退火特性 |
| |
作者姓名: | 李艳 励旭东 许颖 王文静 顾亚华 赵玉文 卢殿通 |
| |
作者单位: | [1]北京师范大学低能核物理研究所,北京100875 [2]北京市太阳能研究所,北京100083 |
| |
摘 要: | 利用等离子增强化学气相沉积(PECVD)方法沉积了氮化硅薄膜,反应气体为氨气和硅烷。这些薄膜在不同条件(温度、时间和气氛)下进行了炉温或快速退火。对太阳电池而言,氮化硅薄膜不仅是有效的减反射层而且也有表面钝化和体钝化作用。利用椭圆偏振光谱、反射谱、红外吸收谱和准稳态光电导(QSSPC)分析了氮化硅薄膜的特性。实验发现随着退火温度的增加,氮化硅薄膜的厚度下降而折射率增加,可以归因于在退火过程中,薄膜愈加致密。红外吸收谱的研究发现,氮化硅中氢的含量在退火过程中有明显的下降,而QSSPC测量的样品寿命有同样的变化。这些结果显示氮化硅的钝化作用与其中的氢含量有关。
|
关 键 词: | 氮化硅 PECVD 退火 |
本文献已被 维普 等数据库收录! |
|