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| 扩展桥联双核铜(Ⅱ)体系的磁耦合机理 | |
| 作者姓名： | 杨效华 杨国元 |
| 作者单位： | 聊城大学,物理系,山东,聊城,252059;莘县技工学校 |
| 基金项目： | 山东省自然科学基金资助课题. |
| 摘 要： | 应用密度泛函理论,采用对称性破损方法研究了草酸根桥联及草酰胺桥联双核铜（Ⅱ）体系的磁耦合作用机理.结果表明:两磁中心的自旋布居大小相等,符号相反,二者之间为反铁磁耦合.而且,与磁中心相联的配体原子与磁中心具有相同符号的自旋布居,磁中心的自旋具有显著的离域效应.HOMO中磁中心未成对电子的占据轨道之间对称性和能级的匹配程度是影响磁耦合强弱的关键.当对称性匹配时,改变桥联基团占据轨道的能级,例如通过改变桥接原子的电负性,即可改变磁耦合作用的强度,电负性愈低,磁耦全作用愈强.当对称性不匹配时,体系中存在较弱的磁耦合. |
| 关 键 词： | 密度泛涵理论 对称性破损方法 磁耦合机理 扩展桥联双核铜(Ⅱ)体系 |
| 文章编号： | 1007-8304(2002)01-0034-05 |
| 修稿时间： | 2001-12-04 |
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