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基于T-K控制图的多品种生产模式统计过程控制方法
作者姓名:顾铠  贾新章  游海龙  张士红
作者单位:西安电子科技大学 微电子学院 国家宽禁带半导体重点实验室, 西安 710071
摘    要:根据SPC基本原理, 传统的统计过程控制技术无法直接用于多品种生产环境的质量监控. 提出了一种新颖的统计过程控制方法, 对工艺参数均值及标准偏差监控, 仅需一张控制图即可对多品种生产过程的运行状态做出评价. 详细给出了T、K统计量的定义和计算方式及T-K控制图控制限的确定. 理论分析表明, T-K控制图具有稳定的监控性能且具有self-starting特点. 通过实例分析及仿真验证, 证实该过程控制方法能够及时、有效地检测出多品种生产模式下导致生产过程失控的异常因素, 提示操作人员适时做出响应, 使生产过程维持在统计受控状态以保证产品质量.

关 键 词:多品种生产  统计过程控制  质量控制  控制图  
收稿时间:2012-01-03
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