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| 荧光分析法测定金属铝箔中的微量镓 | |
| 引用本文： | 许金钩,黄贤智,卢泽聪,顾群.荧光分析法测定金属铝箔中的微量镓[J].厦门大学学报(自然科学版),1987(1). |
| 作者姓名： | 许金钩 黄贤智 卢泽聪 顾群 |
| 作者单位： | 厦门大学化学系，厦门大学化学系，厦门大学化学系，厦门大学化学系 85届分析专业毕业生，86届分析专业毕业生 |
| 摘 要： | Ga~(3 )与Al~(3 )两者离子半径相近,化学性质类似,因此镓是金属铝中常见的杂质之一。荧光法是金属铝中微量镓测定的常用方法。应用表面活性剂的,见于镓-荧光镓(或其同系物)测定体系。8羟基喹啉(Oxine)曾用于硅酸岩中微量镓的萃取-荧光测定。本文研究了Ga~(3 )-Oxine-表面活性剂体系荧光测定的合适条件,并应用于金属铝箔中微量镓的测定。 |
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