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尺寸形貌对硅纳米锥阵列结构反射特性的影响
引用本文:黎相孟,祝锡晶,魏慧芬,崔学良,李建素.尺寸形貌对硅纳米锥阵列结构反射特性的影响[J].河北科技大学学报,2018,39(6):487-493.
作者姓名:黎相孟  祝锡晶  魏慧芬  崔学良  李建素
作者单位:中北大学先进制造技术山西省重点实验室,中北大学先进制造技术山西省重点实验室,中北大学仪器与电子学院,中北大学先进制造技术山西省重点实验室,中北大学先进制造技术山西省重点实验室
基金项目:国家自然科学基金(51705479); 山西省青年科技研究基金(201701D221128, 201701D221167); 中北大学校科学基金(2017005)
摘    要:为了探讨不同尺度和形貌的硅纳米锥阵列结构表面的光学特性,采用基于纳米粒子自组装薄膜掩蔽的亚微米干法刻蚀工艺,在硅基材表面制备了纳米锥阵列结构,并对纳米锥阵列结构进行了形貌表征及光学测试。结果表明,采用SF6和C4F8混合气体,其体积流量分别为12sccm和27sccm,功率750 W,偏压25V时,可以获得光学减反射性能优异的纳米锥阵列结构。通过调节刻蚀时长获得形貌相似而尺寸不同的硅纳米锥阵列结构。200nm和400nm周期硅纳米锥阵列结构表面具有2%~3%的反射率,而800nm周期硅纳米锥阵列结构表面则接近于硅基材背面的反射率并高于10%,说明亚波长结构的减反射特性更加显著。从实验上揭示了尺寸形貌对硅纳米锥阵列结构反射特性的影响规律,为进一步研究光学器件方面的应用提供了参考。

关 键 词:等离子体动力学  干法刻蚀  硅纳米锥阵列  亚波长结构  减反射
收稿时间:2018/9/1 0:00:00
修稿时间:2018/9/28 0:00:00

Effect of size and shape on reflective properties of silicon nanocone arrays
LI Xiangmeng,ZHU Xijing,WEI Huifen,CUI Xueliang and LI Jiansu.Effect of size and shape on reflective properties of silicon nanocone arrays[J].Journal of Hebei University of Science and Technology,2018,39(6):487-493.
Authors:LI Xiangmeng  ZHU Xijing  WEI Huifen  CUI Xueliang and LI Jiansu
Abstract:
Keywords:plasma dynamics  dry etching  silicon nanocone array  subwavelength structure  antireflection
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