单电子晶体管/场效应管混合存储单元数值分析 |
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引用本文: | 郭靖,蒋建飞,蔡琪玉.单电子晶体管/场效应管混合存储单元数值分析[J].上海交通大学学报,2000(1). |
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作者姓名: | 郭靖 蒋建飞 蔡琪玉 |
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作者单位: | 上海交通大学微电子研究所!上海200030 |
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摘 要: | 基于背景电荷不敏感单电子晶体管/场效应晶体管混合存储单元利用单电子晶体管源漏电流随栅电压周期振荡的特性工作,以半经典的单电子正统理论为基础,采用计算机数值模拟的方法,分析了背景电荷不敏感单电子晶体管/常规场效应晶体管混合存储单元的工作原理和基本特性.提出了存储单元中分别以三结电容耦合单电子晶体管和单电子旋转栅替代双结单电子晶体管的新结构,其主要思想是通过增加单电子器件中的串联隧道结数来抑制各种噪声.模拟结果表明,新结构的系统性能,特别是抗噪声性能有一定提高
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