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用飞秒光克尔方法测量镶嵌在PVA膜的SnO2纳米晶簇的三阶光学非线性
引用本文:梁瑞生,龚旗煌,王树峰,黄文涛,王德煌,程虎民,马季铭.用飞秒光克尔方法测量镶嵌在PVA膜的SnO2纳米晶簇的三阶光学非线性[J].北京大学学报(自然科学版),2003,39(3):356-360.
作者姓名:梁瑞生  龚旗煌  王树峰  黄文涛  王德煌  程虎民  马季铭
作者单位:1. 华南师范大学信息光电子科技学院,广州,510631
2. 北京大学物理学院、人工微结构和介观物理国家重点实验室,北京,100871
3. 北京大学化学与分子工程学院,北京,100871
基金项目:国家重点基础研究发展计划(973计划);G1999075607;
摘    要:报道了用飞秒光克尔实验系统测量镶嵌在聚乙烯醇(PVA)薄膜的二氧化锡(SnO2)纳米晶簇的光学非线性的实验结果,平均粒径为10nm和2~3nm的SnO2晶簇的三阶非线性极化率χ(3)分别为4.301×10-14和1.728×10-13esu,并对其原因进行了分析.实验还表明SnO2/PVA薄膜的光学响应是很快的,为50fs.由于聚乙烯醇薄膜的性能稳定,易于生产,上述结果显示它可能成为制作光器件的优良基质.

关 键 词:飞秒  光学非线性  克尔效应

Large Third-order Optical Nonlinearity of SnO2/PVA Composite Thin Film Measured by Femtosecond Optical Kerr Effect Method
Abstract.Large Third-order Optical Nonlinearity of SnO2/PVA Composite Thin Film Measured by Femtosecond Optical Kerr Effect Method[J].Acta Scientiarum Naturalium Universitatis Pekinensis,2003,39(3):356-360.
Authors:Abstract
Abstract:The third-order nonlinear susceptibility χ(3) of SnO2/PVA composite thin film was measured by a femtosecond time-resolved optical Kerr effect OKE at 810nm wavelength.The χ(3) observed was 4.301×10-14 esu for SnO2 nanoparticles which average diameter is 10nm and 1.728×10-13 esu for 2~3nm SnO2 nanoparticles.Femtosecond time-resolved OKE measurements revealed that the response time of the optical nonlinearity in SnO2/PVA thin film is extremely fast as short as 50fs.
Keywords:Femtosecond  optical nonlinearity  Kerr effect
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