首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     检索      

高速网络芯片测试方法研究
引用本文:徐明伟,徐恪,吴建平.高速网络芯片测试方法研究[J].清华大学学报(自然科学版),2003,43(9):1276-1279.
作者姓名:徐明伟  徐恪  吴建平
作者单位:清华大学,计算机科学与技术系,北京,100084
基金项目:国家自然科学基金资助项目(90104002),国家"八六三"高技术项目(863-300,2001AA121013),教育部科学技术重点项目
摘    要:针对网络芯片测试方法研究不多的现状,该文在描述测试概念和抽象测试结构的基础上,根据测试系统中控制观察点的位置,给出了5种网络芯片抽象测试方法,即:集中测试法,分布测试法,远程测试法,穿越测试法和回绕测试法。利用这些测试方法,对用于核心路由器高速接口卡上的OC-48cPOS(packetoverSONET)芯片进行了功能、互操作和性能测试,并分析了测试结果。测试实践表明,这些抽象测试方法能够满足网络芯片测试的需求。

关 键 词:网络芯片测试  测试方法  网络芯片  POS(packetoverSONET)
文章编号:1000-0054(2003)09-1276-04
修稿时间:2002年9月9日

Test methods for high performance network chips
XU Mingwei,XU Ke,WU Jianping.Test methods for high performance network chips[J].Journal of Tsinghua University(Science and Technology),2003,43(9):1276-1279.
Authors:XU Mingwei  XU Ke  WU Jianping
Abstract:
Keywords:testing of network chips  test method  network chip  POS (packet over SONET)  
本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号