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掺Ag离子的纳米CdTe薄膜的结构和电性能研究
引用本文:陈惠敏,郭福强,张保花. 掺Ag离子的纳米CdTe薄膜的结构和电性能研究[J]. 河南大学学报(自然科学版), 2009, 39(5)
作者姓名:陈惠敏  郭福强  张保花
作者单位:昌吉学院,物理系,新疆,昌吉,831100
基金项目:国家自然科学基金项目(10865005);;昌吉学院科研基金项目(08YJYB013)
摘    要:采用射频(R.F.)磁控溅射在陶瓷(Al2O3)衬底上制备出了纳米晶CdTe薄膜,常温下将薄膜样品浸泡到AgNO3水溶液后,在真空380℃下退火60 min获得Ag离子掺杂的样品.利用X射线衍射(XRD)和场发射扫描电镜(FESEM)对掺杂前后薄膜的晶体结构、外貌形态进行了表征.利用扫描电镜配备的能量色散谱仪(EDS)对薄膜化合物元素组成进行定量分析,并使用HMS-3000型霍耳效应测试测定薄膜电导等电学参数.

关 键 词:CdTe  薄膜  R.F.磁控溅射  掺杂  

Studies of Structure and Properties of Ag-Doped CdTe Nanocrystalline Thin Films Fabricated by Low Temperature Sputtering
CHEN Hui-min,GUO Fu-qiang,ZHANG Bao-hua. Studies of Structure and Properties of Ag-Doped CdTe Nanocrystalline Thin Films Fabricated by Low Temperature Sputtering[J]. Journal of Henan University(Natural Science), 2009, 39(5)
Authors:CHEN Hui-min  GUO Fu-qiang  ZHANG Bao-hua
Affiliation:Physics Department of Changji University;Xinjiang Cahgnji 831100;China
Abstract:
Keywords:CdTe  Thin films  R.F.sputtering  silver-doped  
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