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| 半导体激光器结电压饱和特性及其与器件可靠性的关系 | |
| 引用本文： | 石家纬,金恩顺.半导体激光器结电压饱和特性及其与器件可靠性的关系[J].吉林大学自然科学学报,1993(1):53-56. |
| 作者姓名： | 石家纬 金恩顺 |
| 作者单位： | [1]国家集成光电子实验室吉林大学分区，长春130023 [2]国家集成光电子实验室吉林大学分区， |
| 摘 要： | 本文讨论了半导体激光器的结电压饱和特性，并给出了其可靠性和结电压饱和特性关系的实验结果。 |
| 关 键 词： | 结电压饱和 可靠性 半导体激光器 |
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