|
|||||
|
|
| 用正电子湮没寿命谱学法研究“浸泡”工艺对Nd∶YAP晶棒质量影响 | |
| 引用本文： | 史子康.用正电子湮没寿命谱学法研究“浸泡”工艺对Nd∶YAP晶棒质量影响[J].应用科学学报,1991(4). |
| 作者姓名： | 史子康 |
| 作者单位： | 中国科学院福建物质结构研究所 |
| 摘 要： | 报道用正电子湮没寿命谱学法研究在引上法生长Nd∶YAP单晶中引入的“浸泡”工艺对晶体质量的影响,证实了“浸泡”工艺可以改善晶体质量. |
| 关 键 词： | 正电子湮没技术 检测晶体质量 晶体材料 新方法应用 |
| 本文献已被 CNKI 等数据库收录！ | |