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| La1-xSrxTiO3薄膜的高通量X射线衍射 | |
| 作者姓名： | 张一烽 王洋洲 吴广 陈飞 冯振杰 |
| 作者单位： | 上海大学材料基因组工程研究院 |
| 基金项目： | 国家重点研发计划资助项目(2018YFB0704400); |
| 摘 要： | 高通量材料合成方法和高通量材料表征手段区别于传统低效率的“试错法”材料发展方法,极大地加速了材料科学的变革和发展.通过设计程序进行了高通量X射线衍射实验,在保证数据分辨率条件下,高效地表征了La1-xSrxTiO3薄膜上多个数据位点的晶体结构,验证了其成分的连续变化性质,为后续开展更多类型的高通量X射线衍射实验提供了指导. |
| 关 键 词： | 高通量X射线衍射 钛酸锶 La1-xSrxTiO3薄膜 |